飛納臺(tái)式掃描電鏡不僅有用杰出的硬件和精巧的設(shè)計(jì)，采用高亮度、強(qiáng)信號(hào)、壽命為1500h的CeB6燈絲，集成彩色光學(xué)顯微鏡用于彩色導(dǎo)航，配合原裝全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)使用，點(diǎn)擊哪里，看到哪里，設(shè)計(jì)緊湊，*防震；更有強(qiáng)大的軟件拓展功能，飛納電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，飛納電鏡纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，飛納電鏡孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，飛納電鏡3D粗糙度重建，高倍超大視野全景拼圖，遠(yuǎn)程聯(lián)網(wǎng)檢測等。為交流國內(nèi)外顆粒學(xué)研究與技術(shù)的進(jìn)展，每兩年一屆的“中國顆粒學(xué)會(huì)學(xué)術(shù)年會(huì)暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會(huì)”于2016年8月12－14日（8月12日報(bào)到）在四川省成都市舉辦，會(huì)期2天。本屆會(huì)議由中國顆粒學(xué)會(huì)主辦，中國顆粒學(xué)會(huì)超微顆粒專委會(huì)協(xié)辦。飛納臺(tái)式掃描電鏡贊助并出席中國顆粒學(xué)會(huì)第九屆學(xué)術(shù)年會(huì)。
飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別統(tǒng)計(jì)顆粒
客戶現(xiàn)場參觀試用飛納臺(tái)式掃描電鏡
飛納臺(tái)式掃描電鏡放大倍數(shù)13萬倍，分辨率突破10nm，使用的CeB6燈絲可以顯著提升掃描電鏡的成像質(zhì)量，優(yōu)異的硬件為飛納電鏡的軟件開發(fā)打下了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。飛納電鏡顆粒測量系統(tǒng)（PhenomParticleMetric）是基于飛納臺(tái)式掃描電鏡的顆粒分析系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)顆粒可視化分析，由飛納電鏡的制造商荷蘭Phenom-World公司歷經(jīng)三年研發(fā)，于2013年11月1日在荷蘭發(fā)布，目前仍不斷更新升級(jí)，飛納電鏡對所用用戶所使用的軟件升級(jí)都是免費(fèi)的。
飛納電鏡顆粒系統(tǒng)適用的領(lǐng)域有化妝品，食品，化工，制藥，陶瓷等行業(yè)；顆粒狀狀添加劑；環(huán)境顆粒；過濾、篩網(wǎng)等。可對100nm~0.1mm尺寸范圍內(nèi)的顆粒進(jìn)行分析，顆粒探測速度高達(dá)1000個(gè)/分鐘，測量顆粒的大小，形狀，數(shù)量等屬性。給出顆粒眾多的參數(shù)值，例如面積，當(dāng)量直徑，外接圓直徑，比表面積，周長，寬高比，表面積，充實(shí)度，伸長率，灰度等級(jí)，長軸長度和短軸長度，凸殼體，重心，像素點(diǎn)數(shù)，凸?fàn)钗?。并根?jù)實(shí)際需要生散點(diǎn)統(tǒng)計(jì)圖和柱狀統(tǒng)計(jì)圖。
中國顆粒學(xué)會(huì)第九屆學(xué)術(shù)年會(huì)代表證
